Werkstoffanalyse und Bildgebung

Marktführer im Bereich der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS), Elektronenstrahl-Mikroanalyse (ePMA), niederenergetischen Elektronen Emissions-Spektrometrie (LeXes) und Atomsonden-Tomographie (ATP). Innovative Anlagen zur Charakterisierung von Werkstoffen, von der energieaufgelösten Spektrometrie (EDS) und der wellenlängendispersiven Spektrometrie (WDS) zur Mikroanalyse, Elektronenrückstreubeugung (EBSD), kristallographische Analyse mittels TEM-Elektronenbeugung sowie Mikro-Röntgenfluoreszenz (µ-XRF). Breite Palette an atomspektroskopischer Instrumentierung zur Analyse der elementaren Zusammensetzung von Feststoffen und Flüssigkeiten mit Hilfe optischer Emission, energiedispersiver Röntgenfluoreszenz (EDXRF), ICP oder Messverfahren der ICP-Massenspektrometrie für eine Vielzahl von Endmärkten. Digitale Highspeed-Bilderfassungssysteme für den Einsatz in Verteidigung, Kraftfahrzeugtechnik, Maschinenbau, Naturwissenschaften, medizinischer Forschung, industrieller Fertigung und Verpackung, Sport und Unterhaltung sowie digitale Cinematographie für Fernseh- und Filmproduktion.